傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀（XRF）分析時(shí)要求制樣均勻，既熔片、壓片、金屬塊或液體等。

但如果遇到不均勻的樣品或?qū)μ厥鈽悠返哪骋粎^(qū)域感興趣時(shí)，傳統(tǒng)的分析就無法滿足需求了。

這時(shí)需要進(jìn)行微區(qū)分析，也就是針對小尺寸樣品或樣品某一特定區(qū)域進(jìn)行定性、定量或元素分布分析。

傳統(tǒng)的微區(qū)分析方法包括：

?—掃描電鏡（SEM） 

?—激光剝離等離子質(zhì)譜（LA-ICPMS）  

?—帶毛細(xì)管聚焦的能量色散X射線熒光光譜儀等  

?但這些分析手段或多或少的都存在一些局限： 

—分析樣品尺寸小 

?—靈敏度一般  

?—精度不夠  

—?以及有的會(huì)對樣品造成破壞等等  

?而波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的微區(qū)分析則很好地解決了這些問題： 

?—憑借HighSense^TM技術(shù)和市面同等儀器小尺寸準(zhǔn)直器面罩（300μm），第二代S8 TIGER能對小到0.3mm并可選1.25mm的微小區(qū)域開展高靈敏度的元素定性、定量、無標(biāo)樣定量及元素分布分析，步長0.1mm。 

?—輕元素采用正比探測器，重元素采用閃爍探測器，靈敏度提高10倍，實(shí)現(xiàn)了同級別儀器里真正的微區(qū)分析。  

?—此外，高清攝像頭能夠?qū)Ω信d趣區(qū)域拍攝圖片，保證微區(qū)分析的針對性和重現(xiàn)性。  

它可以在科研（地質(zhì)、材料科學(xué)）和質(zhì)量控制（電子、材料科學(xué)、鍍層）上給予我們幫助，可以分析不均勻的地質(zhì)、生物樣品或進(jìn)行技術(shù)產(chǎn)品的監(jiān)控（CIS/CIGS 太陽能電池），它還可以對小顆?；?qū)е庐a(chǎn)品不合格的異物（聚合物、玻璃、金屬等產(chǎn)品的問題判斷）進(jìn)行確認(rèn)等等。

應(yīng)用實(shí)例：

1

分析隕石

▲來自美國亞利桑那州巴林杰隕石坑“Canyon Diablo”的鐵鎳隕石

2

分析化石

▲鸚鵡螺化石

3

分析礦物

▲鈮鉭鐵礦

4

分析耐火材料